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晶體管參數測試儀概述

更新時間:2021-06-21  |  點擊率:631

晶體管參數測試儀 型號:JFY3022A

JFY3022A晶體管參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3022A晶體管參數測試儀,是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:
N型三極管,P型三極管,N型MOS場效應管,P型MOS場效應管N型結型場效應管,正負三端穩壓IC,三端肖特基,基準器431,整流二極管,整流橋堆,可控硅,穩壓二極管.
※             測量參數:
■ 整流二極管,三端肖特基,整流橋堆:

 

參數

測試參數

測試條件設置

正向壓降(VF)

0-2.000V

0-2.000A

耐壓(VRR)

0-1500V

0-2.000MA

 

 

N型三極管:

 

參數

測試參數

測試條件設置

輸入正向壓降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

耐壓(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

放大倍數(HEF)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A

 

P型三極管:

 

參數

測試參數

測試條件設置

輸入正向壓降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

耐壓(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

放大倍數(HEF)

0-3000

VCE:5.0V IB:100uA

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A

 

 

N,PMOS場效應管:

 

參數

測試參數

測試條件設置

啟動電壓(VGS(th))

0-20.00V

0-2.000mA

耐壓(BVCEO)

0-1500V

0-2.000mA

導通內阻(Rson)

0.1Mr-200R

Vgs:0-20V Id:0-2.000A

 

單雙向可控硅:

 

參數

測試參數

測試條件設置

觸發電流(IGT)

0-40.MA

VD=0-20V,ID=0-2.000A

觸發電壓(VGT)

0-2.000V

VD=0-20V,ID=0-2.000A

耐壓(VDRM VRRM)

0-1500V

0-2.000mA

通態壓降(VTM)

0-2.000V

IT:0-2.00A

 

三端穩壓IC:

 

參數

測試參數

測試條件設置

輸出電壓(Vo)

0-20.00V

Vin:0-20V Io:0-2.00A

 

基準IC 431:

 

參數

測試參數

測試條件設置

輸出電壓(Vo)

0-20.00V

IZ:0-200mA

 

 

■ 穩壓二極管:

 

參數

測試參數

測試條件設置

穩壓值(VZ)

0-20V

0-100MA

穩壓值(VZ)

20-200V

0-2.000MA

 

 

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